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詳細介紹
1 概述
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式涂層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域，是材料保護專業(yè)的儀器。
本儀器符合以下標準：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
儀器特點：
? 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。
? 具有兩種工作方式：存儲模式和正常模式。
? 具有兩種種測量模式：高精度測量模式可對多次測量取平均，并對可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，可確保測量值更加準確、穩(wěn)定；快速測量模式可實現(xiàn)實時掃描功能。
? 具有溫度補償功能：的實時溫度補償技術可自動對環(huán)境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進行補償，使測量更準確。
? 設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）測試次數(shù)（NO.）、標準偏差（S.DEV）。
? 可采用零點校準、單點校準或兩點校準法對儀器進行校準,并可用基本校準和溫度系數(shù)校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正。
? 具有存儲功能：最多可存儲500個測量值。
? 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存儲區(qū)內的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量。
? 可設置限界：對限界外的測量值自動報警。
? 具有電源電量指示功能。
? 設有三種關機方式：手動關機方式、超時自動關機方式以及低電量自動關機方式，并可設置超時自動關機等待時間，自動關機時伴有背光閃爍及蜂鳴提示。
1.1 測量原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。
a) 磁性法(F型測頭)
當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
1.2 儀器簡介
| 開關/背光 | |
|
| 文件/統(tǒng)計 |
|
| 刪除鍵 |
| 菜單鍵 | |
| 校準鍵 | |
| 確認鍵 | |
| 向上移動鍵 | |
| 向下移動鍵 | |
| 測頭切換鍵 |
圖 4 液晶顯示示意圖
1.3 技術參數(shù)
1.3.1 測量范圍及測量誤差（見附表2）
1.3.2 使用環(huán)境
? 溫度：0℃～40℃
? 濕度：20%RH～90%RH
? 無強磁場環(huán)境
1.3.3 電源
? 三節(jié)7號堿性電池（1.5V）
1.3.4 外型尺寸和重量
? 外形尺寸：155mm×68mm×27mm
? 重量：約230g
2 儀器的使用
使用本儀器前，請務必仔細閱讀第3章(儀器的校準)和第4章(影響測量精度的因素)。
2.1 測頭的安裝與拆卸
2.1.1 測頭的安裝
儀器使用前，應將測頭正確插入儀器上方的測頭插槽內。
本款儀器采用音頻插頭對外部干擾信號的屏蔽效果更好插拔更加方便。
2.1.2 測頭的拆卸
儀器使用完畢后，應將測頭拆下妥善保存。
2.2 基本測量步驟
a) 準備好待測試件（參見第4章）。
b) 將測頭置于開放空間，按下鍵，開機。
c) 檢查電池電量指示，若電池電量過低，應立即更換電池。
d) 檢查測頭類型，若屏幕下方的測頭類型指示標志與實際測頭類型不符。
e) 是否需要校準儀器，如果需要，選擇適當?shù)男史椒ㄟM行（參見第3章）。
f) 關機：長按下鍵，立即關機；在無任何操作的情況下，大約2～3分鐘后儀器自動關機，自動關機等待時間可進行設置，詳見2.4.2功能設置步驟。
說明:
1) 應盡量使用與待測試件相同材料的基體進行零點校準。
2) 在高精度測量模式關閉時，如果測頭沒有快速垂直地接觸被測物體，則可能得到一個不可靠的測量結果，因此在這種情況下建議使用連續(xù)測量方式，待測頭固定牢靠后再讀數(shù)。
3) 如果在測量過程中測頭放置不穩(wěn)，則可能得到一個不可靠的測量結果。
4) 保存多個測量值后，在測試界面下實時顯示五個統(tǒng)計量，即：平均值（X）、標準偏差（）、測量次數(shù)（N.）、測量值（↑）、最小測量值（↓）。
2.3 各項功能及操作方法
本小節(jié)詳細地介紹了本機的各種功能及其操作方法。
2.3.1 測頭選擇（自動?F?N）
可通過以下步驟進行測頭選擇：
a) 在主界面儀器會自動識別探頭類型出現(xiàn)“F"、或“N"標簽。
測頭類型將在屏幕上方的測頭類型指示區(qū)顯示，“F"對應F型測頭，“N"對應N型測頭，自動識別模式下如果沒有插入測頭，該顯示區(qū)不顯示任何標志。
在某些測量環(huán)境下外界磁場干擾較大，儀器自動識別功能可能無法正確識別測頭類型，可直接按鍵選擇“F"或“N"模式測頭類型。
2.3.2 測量模式設置
為了提高測量精度、和穩(wěn)定性，該儀器提供了高精度測量模式、快速測量模式兩種工作模式。
在主界面中下按鍵可進行高精度測量模式與快速測量模式的切換，當屏幕右下方顯示高精度測量指示標志“P"時表示已進入高精度測量模式，當該標志消失后或出現(xiàn)“Q"表示已退出高精度測量模式。"P"表示Precise Mode即高精度，Q表示Quick Mode即快速模式。
快速測量模式下，可配合“連續(xù)測量"實現(xiàn)實時掃描測量結果進行記錄，并在查看統(tǒng)計界面中進行數(shù)據(jù)分析。
高精度測量模式下，儀器內部將對多次測量的結果進行篩選、平均，對偏差較大的可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，確保測量結果更加準確和穩(wěn)定。該模式下讀數(shù)時間變長約2~3秒。
可通過以下參數(shù)對高精度測量模式進行設置：
? 設置測量精度：設置高精度模式下的精度標準分為高中低三檔，精度越高，測量速度越慢。
2.3.3 測量方式（單次測量?連續(xù)測量）
可使用下列兩種測量方式之一進行測量：
? 單次測量：測頭每接觸被測件1次，隨著一聲鳴響，顯示一個測量結果。
? 連續(xù)測量：不提起測頭連續(xù)測量，在高精度模式開啟時每次鳴響后重新顯示一個測量結果，在高精度模式關閉時實時顯示測量結果且只有個測量結果伴隨鳴響。
兩種方式的轉換方法詳見2.4.1系統(tǒng)設置步驟。
2.3.4 存儲方式
可使用下列兩種工作方式之一進行測量：
? 存儲方式：用于存儲用戶的測量數(shù)據(jù)，當系統(tǒng)設置內的存儲模式為打開狀態(tài)時測量界面出現(xiàn)存儲標志，每次測量數(shù)據(jù)會被記錄并被統(tǒng)計。
? 存儲方式：此方式便于用戶分批記錄所測試的數(shù)據(jù)，測量結果將被自動保存并參與統(tǒng)計計算，每組最多存100個數(shù)值，總共五組，可存500個數(shù)值。每組當存滿100個數(shù)值時，屏幕將顯示“存儲器滿"，此時仍可進行測量，但是測量值會只保存最后100個數(shù)據(jù)會更新單的數(shù)據(jù)會丟失。
兩種方式的轉換方法：
a) 在主界面下按鍵進入主菜單。
b) 按鍵切換至系統(tǒng)設置中的存儲模式，按鍵選擇打開主界面會出現(xiàn)存儲標志。
2.3.5 設置當前文件
可通過如下方法設置當前存儲數(shù)據(jù)的文件：
a) 在主界面下按
鍵循環(huán)選擇文件Batch1~Batch5直至選中“對應文件夾。
說明：按鍵為切換文件夾，長按則進入數(shù)據(jù)的查看統(tǒng)計頁面。
2.3.6 查看/刪除測量數(shù)據(jù)
2.3.6.1 查看測量數(shù)據(jù)
可通過如下步驟查看或刪除已保存的測試數(shù)據(jù)：
a) 在主界面長按按鍵進入數(shù)據(jù)查看界面。
b) 按或鍵翻看每個測量數(shù)據(jù)，并可通過
鍵刪除某個測量數(shù)據(jù)。
c) 按鍵返回。
2.3.6.2 刪除測量數(shù)據(jù)
如2.42步驟a~b所述進入功能設置界面，按或鍵選擇“刪除文件"或“刪除所有數(shù)據(jù)"，再按鍵進入刪除確認界面，確定刪除按鍵，取消刪除按鍵?！皠h除文件"只是把當前文件里的數(shù)據(jù)刪除，而“刪除所有數(shù)據(jù)"是把五組數(shù)據(jù)全部刪除。
在查看統(tǒng)計界面下按鍵會刪除選中數(shù)據(jù)，在主界面和統(tǒng)計界面長按 鍵會刪除整個文件，在主界面下按刪除鍵會依次刪除測量最近的數(shù)據(jù)。
2.3.7 系統(tǒng)時間設置
設置了系統(tǒng)時間可以對儀器自身時間進行修正。
a) 參數(shù)設置方法詳見2.4.2功能設置步驟進入系統(tǒng)時間設置。按鍵選擇時間選項日期時間，然后按或鍵更改該項設置。
2.3.8 待機時間設置
設置了待機時間后，當儀器閑置時間達到待機時間后將會出現(xiàn)屏幕背光閃爍并伴隨蜂鳴提示，屏幕背光閃爍6次后儀器自動關機。屏幕背光閃爍過程中，按任意按鍵或進行測量，儀器將退出自動關機狀態(tài)。
2.3.9 關于測量和誤差的說明
? 如果已經(jīng)進行了適當?shù)男?，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(見表2)。
? 根據(jù)統(tǒng)計學的觀點，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何顯示的測量值都是多次“看不見"的測量的平均值。這些測量是在幾分之一秒的時間內由測頭和儀器完成的。
? 為使測量更加精確，可利用統(tǒng)計程序在一個點多次測量，對誤差較大的測量值可在測量后立即刪除。
? 使用高精度測量模式時，儀器內部將對多次測量的結果進行篩選、平均，對偏差較大的可疑數(shù)據(jù)進行自動過濾，確保測量數(shù)據(jù)更加準確和穩(wěn)定。
最后覆層的厚度為： CH = M+S+δ
其中:
CH 覆層厚度 M 多次測量的平均值
S 標準偏差 δ 儀器允許誤差
2.4 系統(tǒng)設置與功能設置
儀器的其它參數(shù)可以通過系統(tǒng)設置或功能設置修改。通過系統(tǒng)設置可以設置語言、單位、精度、測量模式、報警模式、蜂鳴器和存儲模式。通過功能設置可以實現(xiàn)恢復默認設置、刪除所有數(shù)據(jù)、設置對比度、設置待機時間、設置系統(tǒng)時間 以及版本信息等。
2.4.1 系統(tǒng)設置步驟
b) 在主界面中按鍵進入主菜單界面。
c) 按或鍵選中“系統(tǒng)設置"菜單項，然后按鍵進入系統(tǒng)設置界面。
d) 按或鍵選擇項目，然后按鍵更改該項設置。
e) 設置完成，按鍵返回。
2.4.2 功能設置步驟
a) 在主界面中按鍵進入主菜單界面。
b) 按或鍵選中“功能設置"菜單項，然后按鍵進入功能設置界面。
c) 按或鍵選擇項目，然后按鍵進入該項設置。
d) 按或鍵進行參數(shù)設置，然后按鍵進行確認，并按鍵退出。
2.5 在噴砂表面上測量
噴砂表面的特性導致了測量值大大失真，其覆層厚度大致可用以面方法確定：
a) 使用3.3.2中的兩點校準或使用3.3.1的零點校準方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面上進行校準。
b) 在未涂覆的經(jīng)過同樣噴砂處理的表面進行多次測量，得到平均值Mo。
c) 在已涂覆的表面上進行多次測量，得到平均值Mm。
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。
其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
3 儀器的校準
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
3.1 校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片，簡稱標準片。
a) 校準箔
對于磁性方法，“箔"是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔?！安?有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。
b) 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。
3.2 基體
a) 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與待測試件基體金屬的電性質相似。
為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。
b) 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表2中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
i. 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準。
ii. 用一足夠厚度的，電學性質相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
c) 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
3.3 校準方法
本儀器提供兩種測量中使用的校準方法：零點校準和兩點校準；以及兩種針對測頭的校準方法：基本校準和溫度系數(shù)校準。
3.3.1 零點校準
在不同基體上進行測量時必須重新進行零點校準，當校準使用的基體與待測試件基體性質偏差較大時，測量值將會產(chǎn)生偏差?？墒褂靡韵聝煞N方法之一進行零點校準：
1 在基體上校準
a) 在基體上進行一次測量，屏幕顯示＜××μm＞。
b) 在提起測頭之前按鍵，屏顯，校準完成。
重復上述a、b 步驟可獲得更為精確的校準結果，提高測量精度。
2 在標準片上校準（單點校準）
a) 未用探頭測量之前在主界面中按鍵進入“零點校準"模式。
b) 在標準片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××μm＞。
c) 測頭抬起后按或鍵修正讀數(shù)，使其達到目標值。
d) 按鍵確認，校準完成；或按鍵取消校準；或按鍵清除保存的校準結果。
重復上述a~d步驟可獲得更為精確的校準結果，提高測量精度。
使用標準片進行零點校準后，測量與標準片厚度近似的厚度時將得到更高的測量精度。
使用標準片進行零點校準時，標準片厚度小于200um，標準片厚度過大會導致測量厚度較小的試件時測量精度降低。
當無法找到與待測試件基體相同或近似的校準基體時，可使用標準片校準法在已知厚度的試件上進行零點校準。
3.3.2 基本校準
當出現(xiàn)以下問題導致測量曲線偏離時需要重新進行基本校準：
a) 更換測頭
b) 測頭頂端被磨損
c) 測頭修理后
d) 特殊用途
基本操作方法如下：
a) 開機時一直按住鍵，直到進入基本校準模式。
b) 通過鍵選擇測頭類型，屏幕右上方顯示標志“F"時表示將對F型磁性測頭進行基本校準，屏幕右上方顯示標志“N"時表示將對N型非磁性測頭進行基本校準。
c) 校準無窮遠（INFINITY）：插入測頭，使測頭遠離基體，待屏幕的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認。
d) 校準零點（ZERO）：將測頭緊貼基體，待屏幕的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認。
e) 使用標準片，按厚度增加的順序依次校準5~10個厚度校準點：
i. 通過或鍵調節(jié)屏幕上方顯示的厚度值，使其與校準試片厚度相同。
ii. 測量校準試片，待屏幕顯示的讀數(shù)穩(wěn)定后按鍵確認。
f) 待測量部校準點后，屏幕上會依次顯示各個校準點的信息，并在屏幕下方顯示“PASS"或“FAIL"標志表示校準成功或失敗，待校準信息全部顯示后，可按鍵進入主界面，或按鍵將本次校準結果存為默認設置，存為默認設置后使用恢復默認功能時將自動讀取本次的校準信息。
注意：
校準厚度必須從小到大逐漸變化，當校準厚度或校準值異常時校準
失敗，屏幕下方顯示“FAIL"標志，儀器仍然保留之前的校準結果
3.4 影響因素的有關說明
a) 基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b) 基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見表2。
d) 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感，在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f) 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，在這些試件上無法測出可靠的數(shù)據(jù)。
g) 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體試件上取幾個位置對儀器進行零點校準或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液除去覆蓋層后，再對儀器進行零點校準。
h) 磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
i) 附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
j) 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此要保持壓力恒定。
k) 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響，測量中應當使測頭與試樣表面保持垂直。
3.5 使用儀器時應當遵守的規(guī)定
a) 基體金屬特性
對于磁性方法，校準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，校準基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
c) 邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處進行測量，如邊緣、洞和內轉角等處。
d) 曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。
e) 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f) 表面清潔度
測量前應清除表面上的任何附著物質，如塵土、腐蝕物等，但不要除去任何覆蓋層物質。
4.1 環(huán)境要求
嚴格避免碰撞、重塵、潮濕、強磁場、油污等。
4.2 更換電池
當儀器電量過低時，應及時更換電池，方法如下：
1) 按鍵關機，打開電池倉蓋取出電池；
2) 把有電的7號堿性電池并放入電池倉內（注意電池極性），蓋好電池倉蓋。
儀器長時間不使用時應將電池取出，以避免電池漏液腐蝕儀器。
表1 影響測量精度的因素（▲表示有影響）
| 影響因素 測量方法 | 磁性方法 | 渦流方法 |
| 基體金屬磁性質 | ▲ | |
| 基體金屬電性質 | ▲ | |
| 基體金屬厚度 | ▲ | ▲ |
| 邊緣效應 | ▲ | ▲ |
| 曲率 | ▲ | ▲ |
| 試樣的變形 | ▲ | ▲ |
| 表面粗糙度 | ▲ | ▲ |
| 磁場 | ▲ | |
| 附著物質 | ▲ | ▲ |
| 測頭壓力 | ▲ | ▲ |
| 測頭取向 | ▲ | ▲ |
表2 技術參數(shù)表（H為厚度標稱值）
| 測頭類型 | F | N | |
| 工作原理 | 磁感應 | 渦流 | |
| 測量范圍(μm) | 0～1500 | 0～1500 | |
| 低限分辨力(μm) | 0.1 | 0.1 | |
| 示值 | 零點校準(μm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) |
| 兩點校準(μm) | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1] | |
| 測試條件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸1.5 | 凸3 |
| 最小面積的直徑(mm) | Φ7 | Φ5 | |
| 基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 | |
表3 測頭選用參考表
| 覆蓋層 基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、搪瓷、塑料和陽極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) |
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | F 型測頭 測量范圍：0～1500μm | F 型測頭 測量范圍：0～1500μm |
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | N 型測頭 測量范圍：0～1500μm | N 型測頭 （僅用于銅上鍍鉻） 測量范圍：0～40μm |
1、 用戶購買本公司產(chǎn)品后，請認真填寫《保修登記卡》并請加蓋用戶單位公章。請將《保修登記卡》和購機發(fā)票復印件寄回本公司用戶服務部，也可購機時委托售機單位代寄。手續(xù)不全時，只能維修不予保修。
2、 本公司產(chǎn)品從用戶購置之日起，一年內出現(xiàn)質量故障（非保修件除外），請憑“保修卡"或購機發(fā)票復印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內，不能出示保修卡或購機發(fā)票復印件，本公司按出廠日期計算保修期，期限為一年。
3、 超過保修期的本公司產(chǎn)品出現(xiàn)故障，各地維修站負責售后服務、維修產(chǎn)品，按本公司規(guī)定核收維修費。
4、 公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置"（異型測頭，專用軟件等），按有關標準收取費用。
5、 凡因用戶自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運輸、保管不當或未按“產(chǎn)品使用說明書"正確操作造成產(chǎn)品損壞，以及私自涂改保修卡，無購貨憑證，本公司均不能予以保修。
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